1 . The measuring condition for principle angle in spectroscopic ellipsometry is analyzed.

對(duì)橢圓偏振光譜中的主角測量條件進(jìn)行了分析.

來自互聯(lián)網(wǎng)

2 . Angle of incidence and wave length for ellipsometry method were studied.

對(duì)橢圓偏振法的入射角和波長進(jìn)行了探討.

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3 . A simple method using spectroscopic ellipsometry to measure uniaxial liquid crystal layer is introduced.

探討了利用普通光譜型橢偏儀對(duì)各向異性液晶層進(jìn)行綜合性測量的可行性.

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4 . The extracted results are in good agreement with the results measured by ellipsometry .

柵介質(zhì)厚度模擬結(jié)果和橢偏儀所測實(shí)驗(yàn)結(jié)果吻合良好.

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1 . 橢圓光度法

1 - 2s。這是其他方法如中子散射(neutron reflection)、橢圓光度法(ellipsometry)、反射測定法(reflectometry)和表面等離子體共振(surface plasmon resonance)所難以.

2 . 橢圓測量術(shù)

ellipsometric analysis 橢圓分析ellipsometry橢圓測量術(shù)elliptical aperture 橢圓孔徑

3 . 橢圓偏振術(shù)

【正文快照】： 橢圓偏振術(shù) (Ellipsometry)是通過測量橢圓偏振光在兩相界面或固體表面膜上反射所產(chǎn)生的偏振態(tài)的改變 ,以檢測界面或表面膜有關(guān)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)的方法.

4 . 橢圓偏振

Angle of incidence and wave length for ellipsometrymethod were studied., 對(duì)橢圓偏振法的入射角和波長進(jìn)行了探討.

ellipsometry相關(guān)短語搭配

1 . 消偏振鏡橢圓率測量術(shù)

depolarizer (1)消偏振鏡,消偏振器(2)退極化劑depolarizer ellipsometry 消偏振鏡橢圓率測量術(shù)depolarizers 消偏光元件depolarizing prism 消偏振棱鏡.

1 . 橢圓偏振光譜

graze ellipsometry spectrum ; Tween 20 ; Zinc electrode ; Electrolytic solution ; Additive ;掠射式橢圓偏振光譜；吐溫20；鋅電極；電解液；添加劑；

1 . 外差法

外差系統(tǒng)heterodyning外差法heterodyning ellipsometry外差橢圓偏振測量術(shù)heteroepitaxial optical wave guide.

2 . 外差橢圓偏振測量術(shù)

2012年7月11日?-? heterodyne spectroscopy 外差光譜學(xué) heterodyne system 外差系統(tǒng) heterodyning 外差法 heterodyning ellipsometry 外差橢圓偏振測量術(shù)heteroepitaxial optical.

1 . 橢偏儀

在本實(shí)驗(yàn)中，溶液的濃度是控制薄膜厚度的主要因素，其厚度主要由譜學(xué)橢偏儀（Spectroscopic Ellipsometry）測定。 聚合物薄膜主要用旋轉(zhuǎn)成膜的方法制備。

2 . 橢偏光譜儀

...及表征263.1 PECVD薄膜沉積系統(tǒng)263.2 薄膜表征設(shè)備273.2.1 掃描電子顯微鏡(SEM)273.2.2 橢偏光譜儀(Spectroscopic Ellipsometry)283.2.3 傅立葉轉(zhuǎn)換紅外光譜儀(FTIR)293.2.4 紫外可見吸收(透射)譜儀(UV-Vis)293.3 電極制備及相關(guān)設(shè)備303.3.1 磁控濺射法(Magne.