2018年9月28日，由中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)組織的中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院 “電學(xué)量子基標(biāo)準(zhǔn)核心芯片研制”科技成果鑒定會(huì)圓滿結(jié)束。
此次鑒定會(huì)在中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院進(jìn)行。清華大學(xué)的金國(guó)藩院士、北京東方計(jì)量測(cè)試研究所的黃曉釘研究員、黑龍江省計(jì)量檢定測(cè)試院的曹曙光研究員、清華大學(xué)的陳煒教授、湖南省計(jì)量檢測(cè)研究院的李慶先研究員、航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所的朱巖教授、北京化工大學(xué)的王學(xué)偉研究員作為鑒定專家參與了該項(xiàng)目的鑒定工作。
鑒定會(huì)由金國(guó)藩院士主持。在鑒定會(huì)上，鑒定委員會(huì)聽取了李勁勁研究員所作的技術(shù)總結(jié)報(bào)告、應(yīng)用和查新報(bào)告、測(cè)試組黃曉釘組長(zhǎng)作的測(cè)試報(bào)告。同時(shí)，審查了相關(guān)資料，并進(jìn)行了現(xiàn)場(chǎng)考察。隨后，鑒定專家與課題組成員開展了熱烈地質(zhì)詢討論。
經(jīng)過(guò)全體評(píng)審專家認(rèn)真評(píng)審，一致認(rèn)為： 該項(xiàng)目成果整體達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平。
